镀铝层厚度及附着力的检测

1.镀铝层厚度的检测

    包装行业标准对VMBOPET、VMBOPP、VMCPP薄膜的镀铝层厚度指标为≤2.5Ω/□，镀铝层均匀度指标为±15%。

    (1)检测方法。

    试样金属镀层为一段金属导体，依据欧姆定律测量规定长度和宽度试样的金属镀层电阻值，以方块电阻表示金属镀层的厚度或直接计算其厚度。试验仪器：电子拉力试验机。

    (2)试样装置。

    试验装置的结构如图1-16所示。

1—直流电桥；2—导线；3—测量头；4—测量头连接板；5—被测样品；6—橡胶板

  (3)试样制备。

    试样长度不小于300mm，宽度为(100±0.10)mm。试样数量不少于5片。试样表面应光滑平整，无折痕、污物、溅射点、划伤等缺陷。

    (4)试验步骤。

    ①将金属镀层测量仪与试样放置在温度为(23±2)℃，相对湿度为45%~55%的环境中，放置4h后测量。

    ②每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。

    ③将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。

    ④每次测量前仪器必须校零，测量试样的电阻值。

    (5)结果计算和表示。

    ①金属镀层的方块电阻。

    Ω/□=R/γ

式中 Ω/□——方块电阻值，Ω；

R——被测量金属镀层的电阻值，Ω；

     γ——试样有效长度与宽度的比值。

    取5次试验结果平均值，保留三位有效数字。

    ②金属镀层厚度。

d=；ρ/(Ω/□)

式中 d——金属镀铝层厚度，mm；

     ；ρ——电阻率，10-3Ω·mm2/mm；

    Ω/□——方块电阻值，Ω。

    取5次试验结果平均值，保留三位有效数字。

    ③金属镀铝层的均匀度。

     δ=(Ω/□max－Ω/□min)/(Ω/□ave)×100

式中 δ——金属镀层的均匀度，%；

     Ω/□max——最大方块电阻值，Ω；

     Ω/□min——最小方块电阻值，Ω；

     Ω/□ave——方块电阻平均值，Ω。

2.镀铝层附着力的检测

    包装行业标准对VMBOPET、VMBOPP、VMCPP薄膜的镀铝层附着力指标为≤20%。

    (1)样品制备。

    沿镀铝薄膜的纵向裁取3条宽约100mm，长约250mm的样品。将剥离强度为(2.0±0.2)N/cm的透明BOPP压敏胶粘带分别粘贴到镀铝薄膜的镀铝面上，而后裁成15mm宽的试样。镀铝膜与压敏胶带间应粘贴紧密，不得有气泡、褶皱等缺陷。取5条试样进行试验。

    (2)测试。

    将试样一端剥开50mm，把两端分别夹到拉力试验机的夹具上，以(250±25)mm/min的速度进行拉伸剥离，有效剥离长度为100mm。试验后测量每条试样镀铝层的脱落面积。

    (3)结果取平均值。

这个方阻法能达到哪种精度？一般镀铝是300A—-200nm之间，不知道前辈还有哪些测量方法

回复 mlb24520 的帖子

还有光密度法，你在论坛里面能找到的。你们能镀到200nm么？

打错了100nm

市面上光密度法的仪器精度最高是1um;用光学反射或者干涉原理的仪器（椭偏仪或者filmetrics等）对镀铝最高可能就几纳米，而用X射线原理的仪器（FISHER或者精工电子）又太薄，两者都测不出来，不知道有哪些仪器能测出来这镀铝的厚度。

一般用方阻法或者光密度法都是间接法,直接用方阻仪测出镀层方阻换算成厚度,精度是差的多,
误差10%以内,光密度法也是测出光密度换算成厚度,精度高,其实光密度法同X射线原理的仪器测量原理一样,都是测量透射过的射线的透射率(光密度测的是透射光的透射率),不同光源(射线)透射铝层的衰减与铝层厚度有关,具此可以换算厚度。

能镀100 nm, 你镀得是薄膜么？？薄膜镀50 nm都少见，镀100 nm做什么用？？