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标题: 镀铝层厚度及附着力的检测 [打印本页]

作者: Bruce    时间: 2012-3-25 09:54
标题: 镀铝层厚度及附着力的检测
1.镀铝层厚度的检测
    包装行业标准对VMBOPETVMBOPPVMCPP薄膜的镀铝层厚度指标为≤2.5Ω/□,镀铝层均匀度指标为±15%
    (1)检测方法。
    试样金属镀层为一段金属导体,依据欧姆定律测量规定长度和宽度试样的金属镀层电阻值,以方块电阻表示金属镀层的厚度或直接计算其厚度。试验仪器:电子拉力试验机
    (2)试样装置。
    试验装置的结构如图1-16所示。


1—直流电桥;2—导线;3—测量头;4—测量头连接板;5—被测样品;6—橡胶板
  (3)试样制备。
    试样长度不小于300mm,宽度为(100±0.10)mm。试样数量不少于5片。试样表面应光滑平整,无折痕、污物、溅射点、划伤等缺陷。
    (4)试验步骤。
    ①将金属镀层测量仪与试样放置在温度为(23±2)℃,相对湿度为45%~55%的环境中,放置4h后测量。
    ②每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。
    ③将试样平放在测量仪的橡胶板上,使测量头与金属镀层接触良好。
    ④每次测量前仪器必须校零,测量试样的电阻值。
    (5)结果计算和表示。
    ①金属镀层的方块电阻。
    Ω/=R/γ
式中 Ω/□——方块电阻值,Ω;

R
——被测量金属镀层的电阻值,Ω;
     γ——试样有效长度与宽度的比值。
    5次试验结果平均值,保留三位有效数字。
    ②金属镀层厚度。

d=
;ρ//□)
式中 d——金属镀铝层厚度,mm
     ;ρ——电阻率,10-3Ω·mm2/mm
    Ω/□——方块电阻值,Ω。
    5次试验结果平均值,保留三位有效数字。
    ③金属镀铝层的均匀度。
     δ=/max-Ω/min)//ave100
式中 δ——金属镀层的均匀度,%
     Ω/max——最大方块电阻值,Ω;
     Ω/min——最小方块电阻值,Ω;
     Ω/ave——方块电阻平均值,Ω。

2.
镀铝层附着力的检测
    包装行业标准对VMBOPETVMBOPPVMCPP薄膜的镀铝层附着力指标为≤20%
    (1)样品制备。
    沿镀铝薄膜的纵向裁取3条宽约100mm,长约250mm的样品。将剥离强度为(2.0±0.2)N/cm的透明BOPP压敏胶粘带分别粘贴到镀铝薄膜的镀铝面上,而后裁成15mm宽的试样。镀铝膜与压敏胶带间应粘贴紧密,不得有气泡、褶皱等缺陷。取5条试样进行试验。
    (2)测试。
    将试样一端剥开50mm,把两端分别夹到拉力试验机的夹具上,以(250±25)mm/min的速度进行拉伸剥离,有效剥离长度为100mm。试验后测量每条试样镀铝层的脱落面积。
    (3)结果取平均值。

作者: mlb24520    时间: 2013-7-12 15:57
这个方阻法能达到哪种精度?一般镀铝是300A—-200nm之间,不知道前辈还有哪些测量方法
作者: Bruce    时间: 2013-7-12 16:58
回复 mlb24520 的帖子

还有光密度法,你在论坛里面能找到的。你们能镀到200nm么?
作者: mlb24520    时间: 2013-7-16 08:43
打错了100nm
作者: mlb24520    时间: 2013-7-16 08:52
市面上光密度法的仪器精度最高是1um;用光学反射或者干涉原理的仪器(椭偏仪或者filmetrics等)对镀铝最高可能就几纳米,而用X射线原理的仪器(FISHER或者精工电子)又太薄,两者都测不出来,不知道有哪些仪器能测出来这镀铝的厚度。
作者: dalu    时间: 2013-8-12 17:49
一般用方阻法或者光密度法都是间接法,直接用方阻仪测出镀层方阻换算成厚度,精度是差的多,
误差10%以内,光密度法也是测出光密度换算成厚度,精度高,其实光密度法同X射线原理的仪器测量原理一样,都是测量透射过的射线的透射率(光密度测的是透射光的透射率),不同光源(射线)透射铝层的衰减与铝层厚度有关,具此可以换算厚度。
作者: dalu    时间: 2013-8-22 23:06
能镀100 nm, 你镀得是薄膜么??薄膜镀50 nm都少见,镀100 nm做什么用??




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